Innovatie gespot: X-ray detecteert moeilijk vindbare verontreinigingen

INNOVATIE GESPOT - Mettler Toledo ontwikkelde een nieuw x-ray-inspectiesysteem om verontreinigingen met een lage dichtheid - zoals rubber en plastic - te detecteren. Het systeem controleert ook de verpakkingen, de inhoud en registreert inspectieresultaten in real time.